Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 507-516 |
Seitenumfang | 10 |
Fachzeitschrift | Microelectronics Reliability |
Jahrgang | 40 |
Ausgabenummer | 3 |
DOIs | |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 17 März 2000 |
Transient electro-thermal simulation of microsystems with space-continuous thermal models in an analogue behavioural simulator
Mirko Jakovljevic, Zeljko Mrcarica, Peter A. Fotiu, Helmut Detter, Vanco Litovski
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