Time-of-flight based pixel architecture with integrated double-cathode photodetector

Klaus Oberhauser, Gerald Zach, Alexander Nemecek, Horst Zimmermann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragpeer-review

OriginalspracheEnglisch
TitelOptical Measurement Systems for Industrial Inspection V
AuflagePART 1
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
Extern publiziertJa
VeranstaltungOptical Measurement Systems for Industrial Inspection V - Munich, Deutschland
Dauer: 18 Juni 200722 Juni 2007

Publikationsreihe

NameProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
NummerPART 1
Band6616
ISSN (Print)0277-786X

Konferenz

KonferenzOptical Measurement Systems for Industrial Inspection V
Land/GebietDeutschland
OrtMunich
Zeitraum18/06/0722/06/07

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Time-of-flight based pixel architecture with integrated double-cathode photodetector“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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