Reusable event types for models at runtime to support the examination of runtime phenomena

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragpeer-review

OriginalspracheEnglisch
Titel2015 ACM/IEEE 18th International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems, MODELS 2015 - Proceedings
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Seiten4-13
Seitenumfang10
ISBN (elektronisch)9781467369084
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 25 Nov. 2015
Veranstaltung18th ACM/IEEE International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems, MODELS 2015 - Ottawa, Kanada
Dauer: 30 Sept. 20152 Okt. 2015

Publikationsreihe

Name2015 ACM/IEEE 18th International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems, MODELS 2015 - Proceedings

Konferenz

Konferenz18th ACM/IEEE International Conference on Model Driven Engineering Languages and Systems, MODELS 2015
Land/GebietKanada
OrtOttawa
Zeitraum30/09/152/10/15

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Reusable event types for models at runtime to support the examination of runtime phenomena“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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