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Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors

  • W. Treberspurg
  • , R. Andritschke
  • , G. Hauser
  • , P. Lechner
  • , N. Meidinger
  • , J. Ninkovic
  • , J. Müller-Seidlitz
  • , F. Schopper
  • Max Planck Institute for Extraterrestrial Physics
  • Semiconductor Laboratory of the Max Planck Society

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelpeer-review

7 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
AufsatznummerP09014
Seiten (von - bis)P09014
FachzeitschriftJournal of Instrumentation
Jahrgang13
Ausgabenummer9
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Sept. 2018
Extern publiziertJa

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Measurement results of different options for spectroscopic X-ray DEPFET sensors“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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