Layout options of spectroscopic X-ray DEPFETs

W. Treberspurg; R. Andritschke; A. Bähr; A. Behrens; G. Hauser; P. Lechner; N. Meidinger; J. Müller-Seidlitz; R.~H. Richter; J. Treis

doi:10.1088/1748-0221/14/08/P08008

Layout options of spectroscopic X-ray DEPFETs

W. Treberspurg, R. Andritschke, A. Bähr, A. Behrens, G. Hauser, P. Lechner, N. Meidinger, J. Müller-Seidlitz, R.~H. Richter, J. Treis

Fakultät Technik

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › peer-review

Originalsprache	undefiniert/unbekannt
Seiten (von - bis)	P08008
Fachzeitschrift	Journal of Instrumentation
Jahrgang	14
Ausgabenummer	8
DOIs	https://doi.org/10.1088/1748-0221/14/08/P08008
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1 Aug. 2019

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TY - JOUR

T1 - Layout options of spectroscopic X-ray DEPFETs

AU - Treberspurg, W.

AU - Andritschke, R.

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