Gate-controlled photodetector in PIN technology for distance measurements

A. Nemecek, H. Zimmermann

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandKonferenzbeitragpeer-review

OriginalspracheEnglisch
Titel2007 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007
Extern publiziertJa
Veranstaltung2007 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS - College Park, MD, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 12 Dez. 200714 Dez. 2007

Publikationsreihe

Name2007 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS

Konferenz

Konferenz2007 International Semiconductor Device Research Symposium, ISDRS
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtCollege Park, MD
Zeitraum12/12/0714/12/07

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Gate-controlled photodetector in PIN technology for distance measurements“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

Dieses zitieren