Electro-thermal simulation of microsystems with mixed abstraction modelling

Mirko Jakovljevic; Peter A. Fotiu; Zeljko Mrcarica; Vanco Litovski; Helmut Detter

doi:10.1016/S0026-2714(01)00024-5

Electro-thermal simulation of microsystems with mixed abstraction modelling

Mirko Jakovljevic, Peter A. Fotiu, Zeljko Mrcarica, Vanco Litovski, Helmut Detter

Fachbereich Applied & Numerical Mechanics

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › peer-review

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	823-835
Seitenumfang	13
Fachzeitschrift	Microelectronics Reliability
Jahrgang	41
Ausgabenummer	6
DOIs	https://doi.org/10.1016/S0026-2714(01)00024-5
Publikationsstatus	Veröffentlicht - Juni 2001

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10.1016/S0026-2714(01)00024-5

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TY - JOUR

T1 - Electro-thermal simulation of microsystems with mixed abstraction modelling

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PY - 2001/6

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M3 - Article

AN - SCOPUS:0035366077

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JO - Microelectronics Reliability

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