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Charge-carrier properties in synthetic single-crystal diamond measured with the transient-current technique

  • H. Pernegger
  • , S. Roe
  • , P. Weilhammer
  • , V. Eremin
  • , H. Frais-Kölbl
  • , E. Griesmayer
  • , H. Kagan
  • , S. Schnetzer
  • , R. Stone
  • , W. Trischuk
  • , D. Twitchen
  • , A. Whitehead
  • CERN
  • University of Perugia
  • RAS - Ioffe Physico Technical Institute
  • University of Applied Sciences Wiener Neustadt
  • Ohio State University
  • Rutgers - The State University of New Jersey, New Brunswick
  • University of Toronto
  • De Beers Group

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelpeer-review

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer073704
FachzeitschriftJournal of Applied Physics
Jahrgang97
Ausgabenummer7
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Apr. 2005

Fingerprint

Untersuchen Sie die Forschungsthemen von „Charge-carrier properties in synthetic single-crystal diamond measured with the transient-current technique“. Zusammen bilden sie einen einzigartigen Fingerprint.

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